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CPS高精度納米粒度分析儀是一臺穩定高速、以及高分辨的納米粒度分析儀。該儀器適合測量 0.005 um 到 75um 范圍的粒度。儀器使用高速離心圓盤將顆粒在液體介質里分離開。顆粒在的沉降穩定過程是由于液體介質中顆粒的密度梯度形成的。有別于傳統方法,通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區分提供新的解決方案。同激光散射和顆粒計數法等方法比較,該方法有非常高的分辨率。
美國的Zeta-Meter 4.0+ 系列Zeta電位儀是30年前,早開發的一種簡捷可靠的儀器來測定電泳趟度和Zeta電位。我們的Zeta-Meter System4.0延續了這個傳統、使檢測更加方便。該系統的優勢是可測濃度很高,zg為80%質量含量而且工作范圍廣(5-75℃),此外還可以通過顯微鏡或視頻兩種手段測量樣品的圖像、了解樣品的真實狀態。
1、激光粒度粒形分析儀;$n2、激光光阻法測定樣品的粒度以及粒形;$n3、激光、視頻雙通道,無需設置樣品的折射系數及其他光學指標眼見為實;$n4、多種測量池可選,可以直接測量氣體,纖維、混合物滿足多種特殊應用的測定。
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