粒度分析- 儒亞科技（北京）有限公司

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PD-10電鏡粉末制樣儀

PD-10 型干粉分散儀可以完成對于粒度范圍在 0.1-2500微米范圍內的粉體顆粒進行分散，最終在載波片上形成一個均勻的單層顆粒分散結果，方便后續放置于粒度分析儀，光學顯微鏡或者電子顯微鏡下進行粒度測試或者觀察專業干粉分散儀器

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更新日期：2022-02-22?11:13:06

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CPS高精度納米粒度分析儀

CPS高精度納米粒度分析儀是一臺穩定高速、以及高分辨的納米粒度分析儀。該儀器適合測量 0.005 um 到 75um 范圍的粒度。儀器使用高速離心圓盤將顆粒在液體介質里分離開。顆粒在的沉降穩定過程是由于液體介質中顆粒的密度梯度形成的。有別于傳統方法，通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區分提供新的解決方案。同激光散射和顆粒計數法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。

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顆粒圖像分析儀

顆粒圖像分析儀激光光阻法測定樣品的粒度以及粒形；3、激光、視頻雙通道，無需設置樣品的折射系數及其他光學指標眼見為實；4、多種測量池可選，可以直接測量氣體，纖維、混合物滿足多種特殊應用的測定。

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Zeta-Meter 4.0+ 系列Zeta電位儀

美國的Zeta-Meter 4.0+ 系列Zeta電位儀是30年前，早開發的一種簡捷可靠的儀器來測定電泳趟度和Zeta電位。我們的Zeta-Meter System4.0延續了這個傳統、使檢測更加方便。該系統的優勢是可測濃度很高，zg為80%質量含量而且工作范圍廣（5-75℃），此外還可以通過顯微鏡或視頻兩種手段測量樣品的圖像、了解樣品的真實狀態。

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CPS納米粒度儀

CPS納米粒度分析儀是一臺穩定高速、以及高分辨的納米粒度分析儀。該儀器適合測量 0.005 um 到 75um 范圍的粒度。儀器使用高速離心圓盤將顆粒在液體介質里分離開。顆粒在的沉降穩定過程是由于液體介質中顆粒的密度梯度形成的。有別于傳統方法，通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區分提供新的解決方案。同激光散射和顆粒計數法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。

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激光粒度儀粒度粒形分析儀

1、激光粒度粒形分析儀；$n2、激光光阻法測定樣品的粒度以及粒形；$n3、激光、視頻雙通道，無需設置樣品的折射系數及其他光學指標眼見為實；$n4、多種測量池可選，可以直接測量氣體，纖維、混合物滿足多種特殊應用的測定。

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