• <xmp id="queoy">
  • <tt id="queoy"></tt>
    <blockquote id="queoy"></blockquote>
  • <xmp id="queoy"><u id="queoy"></u>
  • 當前位置:首頁   >  產品中心  >  粒度分析 > 顆粒圖像分析儀 > 顆粒圖像分析儀

    顆粒圖像分析儀

    簡要描述:顆粒圖像分析儀激光光阻法測定樣品的粒度以及粒形;3、激光、視頻雙通道,無需設置樣品的折射系數及其他光學指標眼見為實;4、多種測量池可選,可以直接測量氣體,纖維、混合物滿足多種特殊應用的測定。

    • 產品型號:
    • 廠商性質:
    • 更新時間:2022-02-22?11:13:39
    • 訪  問  量:159

    產品分類

    Product Category

    相關文章

    Related Articles

    詳細介紹

    顆粒圖像分析儀EyeTech是新一代顆粒粒度和粒形分析儀。我們在粒度和粒形分析方面具有豐富的經驗,為各種應用引入了滿足各種不同應用需求的粒徑粒形分析方法。

    激光粒度粒形分析儀

    測量原理

    粒徑分析 (PSA)

     

    EyeTech 激光粒度儀采用有名的激光遮擋法(LOT)。這是一種針對旋轉的激光光束遮擋時間 的粒徑分析技術。樣品中顆粒被聚焦的He-Ne 激光掃描,該激光采用楔形棱鏡,以200Hz的速度旋轉。在角速度已知的情況下,每一顆粒的直徑都可以用遮擋信號的持續時間來計算。這免除了其它分析技術所需的對檢測器靈敏度進行校正的必要性。

    EyeTech 激光粒度儀具有高精度、可靠性和重復性。我們激光方法在600個不連續的時間間隔進行粒徑測量,得到高分辨率的粒徑分布。顆粒粒徑是直接測出來的,而不是通過粒徑的二級特點推算出來的。不受折射率指數、粘度變化、布朗運動、熱傳導和其它物理現象的影響。

     

    動態粒形分析 (DSC)

     

    動態粒形分析采用樣品的原位圖像來分析粒形特征。收集顆粒數字圖像并分析大量形狀參數。動態顯微鏡同步頻閃光在顆粒在動態流動過程中,可以連續捕捉“靜止”圖片。這樣就不必停止液體流動和限制對靜止物體的監測。大量圖片被放大、處理和自動分析,確保結果具有充分的代表性。圖像和統計數據都可以打印或儲存,作為樣品記錄。

     

    激光粒度粒形分析儀

     

    特別特征

    模塊化設計

    可互換的測量池模塊能夠分析各種狀態的顆粒,液體、粉末、氣溶膠、膏狀、薄膜和乳劑。還有特別的測量池用于高濃度樣品測量。采用基于工業P4 電腦開發的ACU,模塊化的EyeTech可以被很方便地整合到任何實驗室。

     

    產品咨詢

    留言框

    • 產品:

    • 您的單位:

    • 您的姓名:

    • 聯系電話:

    • 常用郵箱:

    • 省份:

    • 詳細地址:

    • 留言內容:

    • 驗證碼:

    公司簡介  >  在線留言  >  聯系我們  >  

    CONTACT

    辦公地址:北京市海淀區上地信息路1號金遠見大樓B棟730

    TEL:010-84763620

    EMAIL:info@rubolab.cn
    掃碼微信聯系
    版權所有©2022 儒亞科技(北京)有限公司 All Rights Reserved    備案號:京ICP備19055109號-2     sitemap.xml
    公么看我喂奶下面好硬好大_乱暴伦怀孕500篇_色婷婷六月亚洲婷婷国产_亚洲av日韩综合一区尤物