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    CPS納米粒度儀

    簡要描述:CPS納米粒度分析儀是一臺穩定高速、以及高分辨的納米粒度分析儀。該儀器適合測量 0.005 um 到 75um 范圍的粒度。儀器使用高速離心圓盤將顆粒在液體介質里分離開。顆粒在的沉降穩定過程是由于液體介質中顆粒的密度梯度形成的。有別于傳統方法,通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區分提供新的解決方案。同激光散射和顆粒計數法等方法比較,該方法有非常高的分辨率。

    • 產品型號:DC24000UHR型
    • 廠商性質:
    • 更新時間:2022-02-22?11:13:07
    • 訪  問  量:143

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    詳細介紹

      CPS納米粒度分析儀,有別于傳統方法,通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區分提供新的解決方案
      這種原理有以下幾點優勢:
      分辨率高:
      同激光散射和顆粒計數法等方法比較,該方法有非常高的分辨率。對于只有 1%的顆粒差異分布的時候,該方法測定的結果仍然有好的分離效果。您能看到的是顆粒分布本身,而不是分布顆粒的混合圖。
      靈敏度高:
      低至 10-8 g 的樣品就可以滿足日常分析需要。
      重復性高:
      樣品結果在95%的典型置信度下,連續重復分析峰的重復性小 于+/-1% 或更好。
      快速、高精度數模(A/D)轉換:
      可用信號分辨率(即軟件操作的對象)決定于  數模轉換的過程。CPS系統使用的數模  轉換  可以實現在每秒31次取樣時保持20位以上的精  度,幾百萬分之一的誤差。
      CPS高精度納米粒度儀的技術優勢
      CPS納米粒度分析儀?分辨率很高,它有效地結合了高速離心沉降(ZG24000轉/分)和激光法的優點,使得整個儀器能夠達到極高的分辨率,優良的靈敏度和重復性.
      同激光散射和顆粒計數法比較,該方法有非常高的分辨率,能夠輕松鑒別雜質顆粒,污染顆?;蛘咄鈦眍w粒。半峰寬為峰值粒度 1%,也就是說對于峰值差異只有1%的相鄰粒度兩個粒度峰,該儀器都可以有效地檢測并區分開來。儀器的分辨率如此高,得到的顆粒分布幾乎不受儀器的影響,測量終得到的是真實、可靠的顆粒分布。
      極高的靈敏度, 低于10-8 g 活性樣品可以得到,少可以分析小于毫克乃至微克級的樣品。
      高度可重復性的樣品結果; 連續重復分析峰的重復性小于±1% 或更好。
      連續的離心操作;在分析連續樣品的時候,不需要儀器停止來清洗,需要極少的人工。
      和傳統沉降法比較,更快的分析時間。速度的優勢是基于更快的圓盤轉速以及更快的儀器檢測器響應。采用多階速度,分析速度可以小于通常情況下的1/20。


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